X-Strata920系列鍍層測厚儀具有高性價價比，有著非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量精準、測量時間短等特點；具有高生產力、高再現性，能有效控制產品質量，節(jié)約電鍍成本。
工作原理：對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
膜厚測試儀的主要特點：
1.材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析。
2.測量精度高、穩(wěn)定性好，測量結果精確至μin。
3.激光對焦和自動對焦功能；單擊鼠標，Z軸自動掃描，鐳射聚焦。
4.結果輸出：直接打印或一鍵導出到PDF、Excel文件；報告包含數據、圖像、統(tǒng)計圖表、客戶信息等。
5.進行貴金屬檢測，如Au karat評價。
安全性：
1.自動鎖定功能，防止未授權的操作。
2.簡單用戶界面只向日常操作員設定有限的授權。
3.主管人員可進行系統(tǒng)維護。
4.系統(tǒng)自動生成操作員的使用記錄。
5.Z軸保護傳感器。
6.安全防射線光閘。
7.樣品室門開閉傳感器。
8.X射線鎖。
9.X射線警示燈。
10.緊急停止按鈕。
11.前面板安全鈕和后面板安全鎖。
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